著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
本山 晃 and 松岡 敏成,電子部品の信頼性試験ガイド(第4回) : 最適加速試験項目の選択と試験条件(信頼性基礎講座),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2008,30,8,686-691,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204452565120,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.30.8_686