著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
植木 武美,半導体商社における電子デバイスの品質支援と各種解析サービス(電子デバイスの信頼性技術),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2010,32,7,484-491,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204453237760,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.32.7_484