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山本 渉 and 岩本 大輔 and 安田 裕和 and 鈴木 和幸,ワイブル分布からの二値観測寿命試験のための逐次D-最適試験計画,日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2003,25,1,75-87,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204453270272,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.1_75