著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
佐藤 真吾,Sess.3-2 半導体のESD耐性試験における破壊判定方法の改善(第13回信頼性シンポジウム),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2000,22,8,31-34,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204453288320,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.22.8_31