著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
木村 忠正,半導体デバイスの信頼性基礎講座(2)(RCJ故障物理研究委員会編) : LSIの寿命分布(信頼性基礎講座),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2007,29,5,335-338,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204453379072,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.29.5_335