著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
藤本 和,ＳＤＳ処理凍結割断レプリカ標識法,電子顕微鏡,04170326,公益社団法人 日本顕微鏡学会,1996,30,3,274-280,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204733253504,https://doi.org/10.11410/kenbikyo1950.30.274