著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
上田 修,半導体発光デバイスの劣化解析と劣化抑制,ＩＥＩＣＥ ＦＵＮＤＡＭＥＮＴＡＬＳ ＲＥＶＩＥＷ,1882-0875,一般社団法人 電子情報通信学会,2013,6,4,294-304,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001205341942400,https://doi.org/10.1587/essfr.6.294