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松英 達也 and 英 崇夫 and 池内 保一,Ｘ線材料強度 Ｃｕ／ＴｉＮ二層膜のＸ線残留応力測定,材料,05145163,公益社団法人 日本材料学会,2002,51,7,743-748,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001205393307904,https://doi.org/10.2472/jsms.51.743