著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
大戸 悠司 and 岡崎 和也 and 神田 喜彦 and 苅谷 義治,Sn-Ag-Cu微小はんだの疲労延性指数および係数の温度・周波数依存性,エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集,,一般社団法人エレクトロニクス実装学会,2010,24,0,308-309,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001205556165888,https://doi.org/10.11486/ejisso.24.0_308