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藤井 祐司 and 吉田 典正 and 齋藤 敏雄 and 神田 亮 and 新谷 幹夫,無条件安定陽解法を用いたバネ‐質点モデルのシミュレーション,画像電子学会研究会講演予稿,13426893,一般社団法人 画像電子学会,2011,10.06,0,9-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001205597694592,https://doi.org/10.11371/wiieej.10.06.0_9