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菅谷 雄基 and 椎名 卓也 and 白石 伊世 and 藤井 健太郎 and 横谷 明徳,酸素K殼イオン化エネルギー領域の軟X線照射によるDNA損傷の収率変化,日本放射線影響学会大会講演要旨集,,一般社団法人 日本放射線影響学会,2011,2011,0,195-195,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001205640564096,https://doi.org/10.11513/jrrsabst.2011.0.195.0