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Fabrication and structural measurement of unidirectional Pt/Au nanowires on Ge(110) surface

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  • Ge(110)表面におけるPt及びAu単一配向ナノワイヤーの作製とその構造計測

Abstract

半導体結晶表面上の金属ナノワイヤは、低次元電子物性の研究及びそのデバイス応用の観点から注目されるが、よく定義された試料の作製は難しい。本研究では、STMとLEEDを用いて、異方性の強いGe(110)上で単一配向のPt及びAuのナノワイヤを作製できることを発見した。講演では、その詳細な結果に加えて、ナノワイヤの最表面原子の特定のため行った、最表面敏感の準安定原子脱励起分光計測の結果も併せて議論する。

Journal

Details

  • CRID
    1390001205678303104
  • NII Article ID
    130005489335
  • DOI
    10.14886/sssj2008.35.0_321
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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