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- 中島 博志
- 鹿島建設株式会社 エンジニアリング本部 現：Samsung Electronics Co.,
書誌事項
- タイトル別名
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- Water Quality Analysis by Nakajima Diagram of Cooling-water System Copper Pitting Corrosion
- 冷却水系銅孔食のNakajima Diagramによる水質解析
- レイキャク スイケイ ドウコウショク ノ Nakajima Diagram ニ ヨル スイシツ カイセキ
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説明
従来銅の局部腐食の水質要因については，腐食の専門家以外には明確な判断が困難であった。現在では誰にでも計算結果から判断できる孔食指数が示されている。更にNakajima Diagramを使用することにより腐食の非専門家でも，水質の腐食Risk，過去水質の適否などを判断することが可能である。冷却水系における銅Ⅰ型孔食4事例と健全2事例を用いてこれを確認した。更に現在の水質管理の適否を簡便に判断できる水質改善指数：WQII（Water Quality Improvement Index）の提案とその有効性を示した。
収録刊行物
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- Ｚａｉｒｙｏ‐ｔｏ‐Ｋａｎｋｙｏ
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Ｚａｉｒｙｏ‐ｔｏ‐Ｋａｎｋｙｏ 62 (10), 377-382, 2013
公益社団法人 腐食防食学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206257684608
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- NII論文ID
- 130004503139
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- NII書誌ID
- AN10235427
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC2cXptFSrsQ%3D%3D
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- ISSN
- 18819664
- 09170480
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- NDL書誌ID
- 024968310
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可