著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
森尾 和正 and 小泉 義晴,Mn-N化合物薄膜の電子状態密度のXPS測定,表面科学,03885321,公益社団法人 日本表面科学会,2003,24,8,480-484,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206456685824,https://doi.org/10.1380/jsssj.24.480