著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
有馬 健太,準大気圧下でのX線光電子分光測定による水分子が吸着した極薄GeO<sub>2</sub>/GeおよびSiO<sub>2</sub>/Si構造の観察,表面科学,03885321,公益社団法人 日本表面科学会,2017,38,7,330-335,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206457530112,https://doi.org/10.1380/jsssj.38.330