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山下 良之 and 蓮沼 隆 and 長田 貴弘 and 知京 豊祐,オペランド硬X線光電子分光法によるSiO<sub>2</sub>/4H-SiC界面の界面準位のエネルギー分布観測,表面科学,03885321,公益社団法人 日本表面科学会,2017,38,7,347-350,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206457552896,https://doi.org/10.1380/jsssj.38.347