著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
町田 真一 and 中山 泰生 and 石井 久夫,光電子収量分光法の絶縁物への適用とルブレン薄膜酸化過程のその場観察への応用,表面科学,03885321,公益社団法人 日本表面科学会,2008,29,9,543-549,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206459377024,https://doi.org/10.1380/jsssj.29.543