著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
小池 俊明 and 山本 博之 and 菊地 正 and 古谷 圭一,二次イオン質量分析法における低エネルギーイオン照射下二次イオン放出挙動に関する基礎的検討,質量分析,05428645,一般社団法人 日本質量分析学会,1987,35,5,226-230,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206492798976,https://doi.org/10.5702/massspec.35.226