著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
額賀 淳 and 北澤 聡 and 上村 博,シリコン半導体検出器を用いた450kV X線CT装置,非破壊検査,03675866,一般社団法人 日本非破壊検査協会,2007,56,2,94-99,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206492893440,https://doi.org/10.11396/jjsndi.56.94