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柳部 正樹 and 大井 健太郎 and 田中 智裕 and 西村 晃紀 and 前田 俊二,Deep Convolutional Auto-encoderによる生成画像を用いた電子部品欠陥検査感度の評価手法の検討,精密工学会学術講演会講演論文集,,公益社団法人 精密工学会,2019-03-01,2019S,0,420-421,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001277346389760,https://doi.org/10.11522/pscjspe.2019s.0_420