著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
宮田 登,背面入射中性子反射率法による厚膜の構造評価,波紋,1349046X,日本中性子科学会,2018-11-10,28,4,196-199,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390002184879218304,https://doi.org/10.5611/hamon.28.4_196