Ellipsometry in the Measurement of Surfaces and Thin Films (Symposium Proceedings, Washington 1963), ed E. Passaglia, R.R. Stromberg and J.Kruger, National Bureau of Standards Miscellaneous Publication 256, 1964, 359頁, 14.5×23cm, $2.25.

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• CRID

  1390005506398059264

• NII論文ID

  110002071580

• DOI

  10.11316/butsuri1946.20.7.512_1

• ISSN

  24238872

  00290181

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • CiNii Articles

• 抄録ライセンスフラグ

  使用不可