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鈴木 秀俊 and 佐々木 拓生 and 高橋 正光 and 大下 祥雄,その場Ｘ線回折測定を用いた GaAs(001) 基板上 InGaAs 成長における In 偏析の解析,SPring-8/SACLA利用研究成果集,2187-6886,公益財団法人 高輝度光科学研究センター,2019-08-29,7,2,234-237,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390005506399297536,https://doi.org/10.18957/rr.7.2.234