著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
土屋 秀和 and 永尾 崇 and 浅川 毅,バウンダリスキャンを用いたテスト手法に関する教育システムの開発,エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集,,一般社団法人エレクトロニクス実装学会,2020,34,0,4C1-03,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390008754690192128,https://doi.org/10.11486/ejisso.34.0_4c1-03