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小林 遵栄 and 山本 貴博,CNT薄膜の熱電性能解析手法の開発及び半導体純度・配向性依存性への応用,日本表面真空学会学術講演会要旨集,2434-8589,公益社団法人 日本表面真空学会,2021,2021,0,2P23S,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390009018100176768,https://doi.org/10.14886/jvss.2021.0_2p23s