著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
瀬戸屋 孝,半導体 LSI の信頼性予測・推定の実際,日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2018,40,6,360-367,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390009294965286016,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.40.6_360