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新田 清文 and 関澤 央輝 and 石黒 志 and 鈴木 基寛 and 河村 直己 and 水牧 仁一朗 and 唯 美津木 and 宇留賀 朋哉,コヒーレント回折 XAFS 計測法の高度化および実触媒粒子内の電子状態分布解析への応用,SPring-8/SACLA利用研究成果集,2187-6886,公益財団法人 高輝度光科学研究センター,2022-08-31,10,4,339-341,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390011782480779392,https://doi.org/10.18957/rr.10.4.339