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松本 悟 and 枝元 将彰 and 熊崎 祐介 and 佐藤 威友,光電気化学反応を利用したn-GaN表面ダメージ層の除去,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2017-03-01,2017.1,0,3094-3094,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390012711638157184,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2017.1.0_3094