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四柳 浩之,チップ間接続の半断線検出のための検査容易化設計手法,エレクトロニクス実装学会誌,1343-9677,一般社団法人エレクトロニクス実装学会,2023-03-01,26,2,198-202,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390013795251431680,https://doi.org/10.5104/jiep.26.198