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速水 脩平 and 豊田 智史 and 福田 勝利 and 菅谷 英生 and 中田 明良 and 森田 将史 and 内本 喜晴 and 松原 英一郎,表面電荷反転XPS法によるTaO<sub>x</sub>ナノシート/SiO<sub>2</sub>/Si界面バンドオフセットの解析,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2016-03-03,2016.1,0,1633-1633,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390013972156975232,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_1633