著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
蔡 偉立 and 竹中 充 and 高木 信一,Effects of biaxially-tensile strain on properties of Si/SiO2 interface states generated by electrical stress,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2014-03-03,2014.1,0,2702-2702,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390015210903249536,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2014.1.0_2702