著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
久留須 一彦 and 工藤 あい子 and 山下 智,蛍光X線分析装置による確度の高いスクリーニング法の開発,Ｘ線分析の進歩,0911-7806,公益社団法人 日本分析化学会 X線分析研究懇談会,2009-03-31,40,0,137-144,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390020444395844608,https://doi.org/10.57415/xshinpo.40.0_137