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山上 基行 and 野々口 雅弘 and 山田 隆 and 庄司 孝 and 宇高 忠 and 森 良弘 and 野村 惠章 and 谷口 一雄 and 脇田 久伸 and 池田 重良,気相分解／全反射蛍光Ｘ線分析法によるシリコンウェハー上の軽元素分析,分析化学,05251931,公益社団法人 日本分析化学会,1999,48,11,1005-1011,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679029306880,https://doi.org/10.2116/bunsekikagaku.48.1005