著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
山本 博之 and 馬場 祐治 and 佐々木 貞吉,放射光を用いた高エネルギーＸ線光電子分光法によるＳｉ（１００）酸化薄膜の深さ方向分析,分析化学,05251931,公益社団法人 日本分析化学会,1996,45,2,169-174,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679029485952,https://doi.org/10.2116/bunsekikagaku.45.169