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北田 昌俊 and 内藤 正路 and 西垣 敏 and 遠山 尚武 and 生地 文也,６Ｈ‐ＳｉＣ（０００￣１）再構成表面の走査トンネル顕微鏡／低速電子線回折法による解析,真空,05598516,一般社団法人 日本真空学会,2003,46,6,505-508,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679039861632,https://doi.org/10.3131/jvsj.46.505