著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
高萩 隆行 and 坂上 弘之,走査トンネル顕微鏡，原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析,真空,05598516,一般社団法人 日本真空学会,1999,42,10,886-891,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679041775360,https://doi.org/10.3131/jvsj.42.886