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宇佐美勝久 and 嶋田 寿一 and 片山 良史,ＸＰＳによるａ‐Ｓｉ?Sｘ?TＣ?S１－ｘ?T：Ｈ合金の組成分析,真空,05598516,一般社団法人 日本真空学会,1980,23,6,303-309,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679041965056,https://doi.org/10.3131/jvsj.23.303