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渡辺 優 and 沙川 貴大 and 上田 正仁,量子推定理論による測定誤差の不確定性関係の定式化とその量子情報幾何における意味付け,Soryushiron Kenkyu Electronics,03711838,Soryushiron Kenkyu Editorial Office,2012,119,4A,D283-D293,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679047856640,https://doi.org/10.24532/soken.119.4a_d283