著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
原口 智 and 井田 貞夫,エレクトロニクス分野におけるめっき皮膜の評価法 電子部品の腐食性ガス試験の現状 一般環境模擬試験方法の研究,表面技術,09151869,一般社団法人 表面技術協会,2002,53,2,96-103,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679093161472,https://doi.org/10.4139/sfj.53.96