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田尻 善親 and 市橋 光芳 and 脇田 久伸 and 増 田勲,モノクロメーターのＣｏｍｐｔｏｎ散乱成分除去率の測定 単結晶を用いる方法,日本化学会誌（化学と工業化学）,0369-4577,公益社団法人 日本化学会,1985,1985,2,267-269,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679367485696,https://doi.org/10.1246/nikkashi.1985.267