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橋本 哲,ナノテクノロジーのための極低加速走査電子顕微鏡(ナノテクノロジー時代の故障解析技術と解析ツール),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2006,28,3,155-162,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679428653696,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.28.3_155