著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
奥西 拓馬 and 久田 賢一,次世代パワー半導体SiCの現状と信頼性(パワー半導体の現状と信頼性),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2015,37,1,3-9,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679429933440,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.37.1_3