著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
横川 慎二,コンタクトの信頼性 : Siデバイスから先端パワーデバイスまで(パワー半導体の現状と信頼性),日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2015,37,1,26-33,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679429934336,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.37.1_26