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松山 英也,LSIのホットキャリア劣化現象について,日本信頼性学会誌 信頼性,09192697,日本信頼性学会,2003,25,2,98-102,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679430002944,https://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_98