著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
町屋 修太郎 and 秋庭 義明 and 鈴木 賢治 and 田中 啓介 and 栗村 隆之 and 小熊 英隆,高エネルギー放射光を用いたひずみスキャニング法による残留応力分布測定,日本機械学会論文集Ａ編,03875008,一般社団法人 日本機械学会,2005,71,711,1530-1537,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679455400320,https://doi.org/10.1299/kikaia.71.1530