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小林 春夫 and 山口 隆弘,"デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)",映像情報メディア学会技術報告,13426893,一般社団法人 映像情報メディア学会,2010,34.29,0,37-42,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679503036672,https://doi.org/10.11485/itetr.34.29.0_37