書誌事項
- タイトル別名
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- Feasibility Study on EMI Measurement "furoshiki" using 2V Organic CMOS and Silicon CMOS
- 2V有機CMOSとシリコンCMOSを用いたEMI測定用風呂敷の原理検証
- 2V ユウキ CMOS ト シリコン CMOS オ モチイタ EMI ソクテイヨウ フロシキ ノ ゲンリ ケンショウ
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説明
電子機器が高性能化され、高密度に部品が実装されるのに伴い、EMIの発生源を特定するのが難しくなってきている。この問題を解決するために、電子機器を包むようにしてその表面の磁界及び電界の分布を測定するツール「EMI測定用風呂敷」の原理検証を行ったので報告する。
収録刊行物
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- 映像情報メディア学会技術報告
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映像情報メディア学会技術報告 33.39 (0), 1-6, 2009
一般社団法人 映像情報メディア学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679504055680
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- NII論文ID
- 110007484181
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- NII書誌ID
- AN1059086X
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- ISSN
- 24241970
- 13426893
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- NDL書誌ID
- 10445516
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可