著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
中村 芳行,テストのビッグデータ活用による半導体業界の検査技術の進化,エレクトロニクス実装学会誌,13439677,一般社団法人エレクトロニクス実装学会,2016,19,3,151-157,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679537112960,https://doi.org/10.5104/jiep.19.151