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橋爪 正樹 and 加藤 健二 and 四柳 浩之,次世代基板実装を支える検査技術 ＩＥＥＥ１１４９．１準拠ＩＣ間断線の電気検査法,エレクトロニクス実装学会誌,13439677,一般社団法人エレクトロニクス実装学会,2011,14,2,99-102,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679537197440,https://doi.org/10.5104/jiep.14.99