著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
和田 順雄,薄膜の屈折率と膜厚の光学的測定法,応用物理,0369-8009,公益社団法人 応用物理学会,1996,65,11,1125-1130,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679572043136,https://doi.org/10.11470/oubutsu1932.65.1125